Artikel 1 - Zweite Verordnung zur Änderung der Kostenverordnung für die Zulassung von Messgeräten zur Eichung (2. ZulKostVÄndV k.a.Abk.)

V. v. 18.10.2010 BGBl. I S. 1430 (Nr. 52); Geltung ab 01.12.2010

Artikel 1

Die Zulassungskostenverordnung vom 22. Dezember 1992 (BGBl. I S. 2471), die zuletzt durch Artikel 18 des Gesetzes vom 10. November 2001 (BGBl. I S. 2992) geändert worden ist, wird wie folgt geändert:

1. § 1 wird wie folgt gefasst:

„§ 1 Anwendungsbereich

Für jede der nachstehend aufgeführten Amtshandlungen der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) nach § 13a Nummer 1 und 2 des Eichgesetzes werden Gebühren und Auslagen nach dieser Verordnung erhoben:

1. die Prüfung, Bewertung oder Zulassung von Messgeräten gemäß § 7c Absatz 2 in Verbindung mit Anlage 9 Nummer 2 der Eichordnung, gemäß den §§ 18 bis 19 oder gemäß § 28 der Eichordnung,

2. die Verlängerung, Änderung oder Ergänzung von erteilten Zulassungsbescheiden gemäß § 20 Absatz 1 oder § 26 Absatz 2 oder 3 der Eichordnung,

3. die Übertragung einer Bauartzulassung gemäß § 27 der Eichordnung,

4. die Prüfung von Normalgeräten oder Prüfungshilfsmitteln der zuständigen Behörden und der staatlich anerkannten Prüfstellen gemäß § 13a Nummer 2 in Verbindung mit § 13 Absatz 1 Nummer 2 des Eichgesetzes,

5. die Feststellung der Gleichwertigkeit von Prüfungen oder Kennzeichnungen von Messgeräten gemäß § 80 Absatz 2 und 3 der Eichordnung,

6. die Vergleichsmessungen von Dosimetern gemäß § 2 Absatz 3 Satz 4 der Eichordnung,

7. die Änderungen an bestehenden Bescheinigungen über die Anerkennung von Herstellerzeichen für Schankgefäße gemäß § 45 Absatz 3 der Eichordnung, der gemäß § 77 Absatz 3 der Eichordnung weiter Anwendung finden kann,

8. die Prüfung oder Erteilung von Anerkennungen von Herstellerzeichen für Flaschen und Maßbehältnisse oder deren Änderungen gemäß § 4 der Fertigpackungsverordnung."

2. § 2 wird wie folgt gefasst:

„§ 2 Gebührenberechnung

(1) Die Gebühren werden nach dem Zeitaufwand bestimmt, soweit nicht nach § 3 Gebühren auch für den sachlichen Aufwand zu erheben sind. Bei der Berechnung der Gebühr sind die in der Anlage zu dieser Verordnung für die einzelnen Themenbereiche aufgeführten Stundensätze zugrunde zu legen. Für jede angefangene Viertelstunde ist ein Viertel dieser Stundensätze zu berechnen.

(2) Zum Zeitaufwand gehören insbesondere folgende Tätigkeiten:

1. vorbereitende Schriftwechsel und Gespräche, Aufbau und Umbau von Prüfanlagen einschließlich der notwendigen Werkstattarbeiten sowie sonstige Vorarbeiten,

2. die unmittelbare Prüfarbeit am Prüfobjekt,

3. Abbau der Prüfanlagen, Auswertung der Protokolle, Anfertigung der Prüfungsurkunden sowie sonstige Abschlussarbeiten,

4. Besprechungen sowie Schreibarbeiten.

(3) Werden Amtshandlungen nach § 1 außerhalb der Bundesanstalt erbracht, so sind Gebühren nach dem Zeitaufwand ferner zu berechnen für

1. Reisezeiten, die innerhalb der üblichen Arbeitszeit liegen oder von der Bundesanstalt besonders abgegolten werden,

2. Wartezeiten, die vom Kostenschuldner verursacht worden sind."

3. § 3 wird wie folgt geändert:

a) Absatz 1 wird aufgehoben

b) Die Absatzbezeichnung „(2)" wird gestrichen.

4. § 4 wird aufgehoben.

5. Die §§ 5 und 6 werden die §§ 4 und 5.

6. Folgende Anlage wird angefügt:

„Anlage (zu § 2)

Für die Amtshandlungen nach § 1 dieser Verordnung werden die nachstehend aufgeführten Stundensätze berechnet:

Themenbereich	Stundensatz Euro	Fachbereich
Themenbereich 1 Akustik, Ultraschall, Beschleunigung	75	Kinematik
		Schall
		Angewandte Akustik
Themenbereich 2 Durchfluss	80	Gase
		Flüssigkeiten
		Wärme
Themenbereich 3 Elektrizität und Magnetismus	70	Gleichstrom und Niederfrequenz
		Hochfrequenz und Felder
		Elektrische Energiemesstechnik
		Quantenelektronik
		Halbleiterphysik und Magnetismus
		Elektrische Quantenmetrologie
Themenbereich 4 Ionisierende Strahlung	78	Radioaktivität
		Strahlentherapie und Röntgendiag- nostik
		Strahlenschutzdosimetrie
		Ionenbeschleuniger und Referenz- strahlungsfelder
		Neutronenstrahlung
		Grundlagen der Dosimetrie
Themenbereich 5 Länge, dimensionelle Metrologie	76	Bild- und Wellenoptik
		Quantenoptik und Längeneinheit
		Oberflächenmesstechnik
		Dimensionelle Nanometrologie
		Koordinatenmesstechnik
		Interferometrie an Maßverkörpe- rungen
Themenbereich 6 Masse und abgeleitete Größen	75	Masse
		Festkörpermechanik
Themenbereich 7 Metrologie in der Chemie	73	Metrologie in der Chemie
		Gasanalytik und Zustandsverhalten
		Stoffeigenschaften und Druck
Themenbereich 10 Thermometrie	78	Detektorradiometrie und Strah- lungsthermometrie
		Temperatur
		Kryo- und Vakuumphysik
Sonstige Leistungen	76	Gesetzliches Messwesen und Technologietransfer
	69	Justitiariat

".