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Zweite Verordnung zur Änderung der Kostenverordnung für die Zulassung von Messgeräten zur Eichung (2. ZulKostVÄndV k.a.Abk.)


Eingangsformel



Auf Grund des § 14 Satz 1 des Eichgesetzes, der zuletzt durch Artikel 1 Nummer 4 Buchstabe b des Gesetzes vom 2. Februar 2007 (BGBl. I S. 58) neu gefasst worden ist, in Verbindung mit dem 2. Abschnitt des Verwaltungskostengesetzes vom 23. Juni 1970 (BGBl. I S. 821) verordnet das Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie:


Artikel 1


Artikel 1 wird in 1 Vorschrift zitiert und ändert mWv. 1. Dezember 2010 ZulKostV § 1, § 2, § 3, § 4, § 5, § 6, Anlage (neu)

Die Zulassungskostenverordnung vom 22. Dezember 1992 (BGBl. I S. 2471), die zuletzt durch Artikel 18 des Gesetzes vom 10. November 2001 (BGBl. I S. 2992) geändert worden ist, wird wie folgt geändert:

1.
§ 1 wird wie folgt gefasst:

„§ 1 Anwendungsbereich

Für jede der nachstehend aufgeführten Amtshandlungen der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) nach § 13a Nummer 1 und 2 des Eichgesetzes werden Gebühren und Auslagen nach dieser Verordnung erhoben:

1.
die Prüfung, Bewertung oder Zulassung von Messgeräten gemäß § 7c Absatz 2 in Verbindung mit Anlage 9 Nummer 2 der Eichordnung, gemäß den §§ 18 bis 19 oder gemäß § 28 der Eichordnung,

2.
die Verlängerung, Änderung oder Ergänzung von erteilten Zulassungsbescheiden gemäß § 20 Absatz 1 oder § 26 Absatz 2 oder 3 der Eichordnung,

3.
die Übertragung einer Bauartzulassung gemäß § 27 der Eichordnung,

4.
die Prüfung von Normalgeräten oder Prüfungshilfsmitteln der zuständigen Behörden und der staatlich anerkannten Prüfstellen gemäß § 13a Nummer 2 in Verbindung mit § 13 Absatz 1 Nummer 2 des Eichgesetzes,

5.
die Feststellung der Gleichwertigkeit von Prüfungen oder Kennzeichnungen von Messgeräten gemäß § 80 Absatz 2 und 3 der Eichordnung,

6.
die Vergleichsmessungen von Dosimetern gemäß § 2 Absatz 3 Satz 4 der Eichordnung,

7.
die Änderungen an bestehenden Bescheinigungen über die Anerkennung von Herstellerzeichen für Schankgefäße gemäß § 45 Absatz 3 der Eichordnung, der gemäß § 77 Absatz 3 der Eichordnung weiter Anwendung finden kann,

8.
die Prüfung oder Erteilung von Anerkennungen von Herstellerzeichen für Flaschen und Maßbehältnisse oder deren Änderungen gemäß § 4 der Fertigpackungsverordnung."

2.
§ 2 wird wie folgt gefasst:

„§ 2 Gebührenberechnung

(1) Die Gebühren werden nach dem Zeitaufwand bestimmt, soweit nicht nach § 3 Gebühren auch für den sachlichen Aufwand zu erheben sind. Bei der Berechnung der Gebühr sind die in der Anlage zu dieser Verordnung für die einzelnen Themenbereiche aufgeführten Stundensätze zugrunde zu legen. Für jede angefangene Viertelstunde ist ein Viertel dieser Stundensätze zu berechnen.

(2) Zum Zeitaufwand gehören insbesondere folgende Tätigkeiten:

1.
vorbereitende Schriftwechsel und Gespräche, Aufbau und Umbau von Prüfanlagen einschließlich der notwendigen Werkstattarbeiten sowie sonstige Vorarbeiten,

2.
die unmittelbare Prüfarbeit am Prüfobjekt,

3.
Abbau der Prüfanlagen, Auswertung der Protokolle, Anfertigung der Prüfungsurkunden sowie sonstige Abschlussarbeiten,

4.
Besprechungen sowie Schreibarbeiten.

(3) Werden Amtshandlungen nach § 1 außerhalb der Bundesanstalt erbracht, so sind Gebühren nach dem Zeitaufwand ferner zu berechnen für

1.
Reisezeiten, die innerhalb der üblichen Arbeitszeit liegen oder von der Bundesanstalt besonders abgegolten werden,

2.
Wartezeiten, die vom Kostenschuldner verursacht worden sind."

3.
§ 3 wird wie folgt geändert:

a)
Absatz 1 wird aufgehoben

b)
Die Absatzbezeichnung „(2)" wird gestrichen.

4.
§ 4 wird aufgehoben.

5.
Die §§ 5 und 6 werden die §§ 4 und 5.

6.
Folgende Anlage wird angefügt:

„Anlage (zu § 2)

Für die Amtshandlungen nach § 1 dieser Verordnung werden die nachstehend aufgeführten Stundensätze berechnet:

ThemenbereichStundensatz
Euro
Fachbereich
Themenbereich 1
Akustik, Ultraschall,
Beschleunigung
75 Kinematik
Schall
Angewandte Akustik
Themenbereich 2
Durchfluss
80 Gase
Flüssigkeiten
Wärme
Themenbereich 3
Elektrizität und
Magnetismus
70 Gleichstrom und Niederfrequenz
Hochfrequenz und Felder
Elektrische Energiemesstechnik
Quantenelektronik
Halbleiterphysik und Magnetismus
Elektrische Quantenmetrologie
Themenbereich 4
Ionisierende Strahlung
78 Radioaktivität
Strahlentherapie und Röntgendiag-
nostik
Strahlenschutzdosimetrie
Ionenbeschleuniger und Referenz-
strahlungsfelder
Neutronenstrahlung
Grundlagen der Dosimetrie
Themenbereich 5
Länge, dimensionelle
Metrologie
76 Bild- und Wellenoptik
Quantenoptik und Längeneinheit
Oberflächenmesstechnik
Dimensionelle Nanometrologie
Koordinatenmesstechnik
Interferometrie an Maßverkörpe-
rungen
Themenbereich 6
Masse und abgeleitete
Größen
75 Masse
Festkörpermechanik
Themenbereich 7
Metrologie in der
Chemie
73 Metrologie in der Chemie
Gasanalytik und Zustandsverhalten
Stoffeigenschaften und Druck
Themenbereich 10
Thermometrie
78 Detektorradiometrie und Strah-
lungsthermometrie
Temperatur
Kryo- und Vakuumphysik
Sonstige Leistungen 76Gesetzliches Messwesen und
Technologietransfer
69Justitiariat
".


Artikel 2



Diese Verordnung tritt am 1. Dezember 2010 in Kraft.


Schlussformel



Der Bundesrat hat zugestimmt.

Der Bundesminister für Wirtschaft und Technologie

Rainer Brüderle