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Synopse aller Änderungen der Zulassungskostenverordnung am 01.12.2010
Diese Gegenüberstellung vergleicht die jeweils alte Fassung (linke Spalte) mit der neuen Fassung (rechte Spalte) aller am 1. Dezember 2010 durch Artikel 1 der 2. ZulKostVÄndV geänderten Einzelnormen. Synopsen für andere Änderungstermine finden Sie in der Änderungshistorie der ZulKostV.Hervorhebungen: alter Text, neuer Text
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| a.F. (alte Fassung) in der vor dem 01.12.2010 geltenden Fassung | n.F. (neue Fassung) in der am 01.12.2010 geltenden Fassung durch Artikel 1 V. v. 18.10.2010 BGBl. I S. 1430 |
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Gliederung | |
(Textabschnitt unverändert) Eingangsformel § 1 Anwendungsbereich § 2 Gebührenberechnung § 3 Gebührenerhebung in besonderen Fällen | |
| (Text alte Fassung) § 4 Höchstsatz der Gebühr § 5 Auslagen § 6 Inkrafttreten | (Text neue Fassung) § 4 Auslagen § 5 Inkrafttreten |
Schlußformel | |
| | Anlage (zu § 2) |
§ 1 Anwendungsbereich | |
| Für Amtshandlungen der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (Bundesanstalt) nach § 14 Satz 1 Nr. 1 und 2 des Eichgesetzes werden Kosten (Gebühren und Auslagen) nach dieser Verordnung erhoben. | Für jede der nachstehend aufgeführten Amtshandlungen der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) nach § 13a Nummer 1 und 2 des Eichgesetzes werden Gebühren und Auslagen nach dieser Verordnung erhoben: 1. die Prüfung, Bewertung oder Zulassung von Messgeräten gemäß § 7c Absatz 2 in Verbindung mit Anlage 9 Nummer 2 der Eichordnung, gemäß den §§ 18 bis 19 oder gemäß § 28 der Eichordnung, 2. die Verlängerung, Änderung oder Ergänzung von erteilten Zulassungsbescheiden gemäß § 20 Absatz 1 oder § 26 Absatz 2 oder 3 der Eichordnung, 3. die Übertragung einer Bauartzulassung gemäß § 27 der Eichordnung, 4. die Prüfung von Normalgeräten oder Prüfungshilfsmitteln der zuständigen Behörden und der staatlich anerkannten Prüfstellen gemäß § 13a Nummer 2 in Verbindung mit § 13 Absatz 1 Nummer 2 des Eichgesetzes, 5. die Feststellung der Gleichwertigkeit von Prüfungen oder Kennzeichnungen von Messgeräten gemäß § 80 Absatz 2 und 3 der Eichordnung, 6. die Vergleichsmessungen von Dosimetern gemäß § 2 Absatz 3 Satz 4 der Eichordnung, 7. die Änderungen an bestehenden Bescheinigungen über die Anerkennung von Herstellerzeichen für Schankgefäße gemäß § 45 Absatz 3 der Eichordnung, der gemäß § 77 Absatz 3 der Eichordnung weiter Anwendung finden kann, 8. die Prüfung oder Erteilung von Anerkennungen von Herstellerzeichen für Flaschen und Maßbehältnisse oder deren Änderungen gemäß § 4 der Fertigpackungsverordnung. |
§ 2 Gebührenberechnung | |
| Die Gebühren werden nach dem Arbeitsaufwand berechnet. Bei der Berechnung der Gebühr nach dem Arbeitsaufwand sind als Stundensätze zugrunde zu legen 1. für Beamte des höheren Dienstes und vergleichbare Angestellte 82 Euro, 2. für Beamte des gehobenen Dienstes und vergleichbare Angestellte 69 Euro, 3. für sonstige Bedienstete 57 Euro. Für jede angefangene Viertelstunde ist ein Viertel dieser Stundensätze zu berechnen. | (1) Die Gebühren werden nach dem Zeitaufwand bestimmt, soweit nicht nach § 3 Gebühren auch für den sachlichen Aufwand zu erheben sind. Bei der Berechnung der Gebühr sind die in der Anlage zu dieser Verordnung für die einzelnen Themenbereiche aufgeführten Stundensätze zugrunde zu legen. Für jede angefangene Viertelstunde ist ein Viertel dieser Stundensätze zu berechnen. (2) Zum Zeitaufwand gehören insbesondere folgende Tätigkeiten: 1. vorbereitende Schriftwechsel und Gespräche, Aufbau und Umbau von Prüfanlagen einschließlich der notwendigen Werkstattarbeiten sowie sonstige Vorarbeiten, 2. die unmittelbare Prüfarbeit am Prüfobjekt, 3. Abbau der Prüfanlagen, Auswertung der Protokolle, Anfertigung der Prüfungsurkunden sowie sonstige Abschlussarbeiten, 4. Besprechungen sowie Schreibarbeiten. (3) Werden Amtshandlungen nach § 1 außerhalb der Bundesanstalt erbracht, so sind Gebühren nach dem Zeitaufwand ferner zu berechnen für 1. Reisezeiten, die innerhalb der üblichen Arbeitszeit liegen oder von der Bundesanstalt besonders abgegolten werden, 2. Wartezeiten, die vom Kostenschuldner verursacht worden sind. |
§ 3 Gebührenerhebung in besonderen Fällen | |
| (1) Werden Amtshandlungen außerhalb der Bundesanstalt vorgenommen, sind Gebühren nach § 2 auch zu erheben für 1. Reisezeiten, 2. Wartezeiten, die vom Kostenschuldner zu vertreten sind, soweit die Zeiten innerhalb der üblichen Arbeitszeit liegen oder von der Bundesanstalt besonders abgegolten werden. (2) Erfordert eine Zulassung einen überdurchschnittlichen sachlichen Aufwand, so ist dieser nach den Selbstkosten zu berechnen. Um diesen Betrag erhöht sich die Gebühr nach § 2. | Erfordert eine Zulassung einen überdurchschnittlichen sachlichen Aufwand, so ist dieser nach den Selbstkosten zu berechnen. Um diesen Betrag erhöht sich die Gebühr nach § 2. |
§ 4 Höchstsatz der Gebühr | § 4 (aufgehoben) |
| (1) Die Gebühr darf nicht übersteigen 1. 15.000 Euro für eine Zulassung, 2. 7.500 Euro für eine Prüfung von Normalgeräten oder Prüfungshilfsmitteln. (2) Erfordert eine Zulassung überdurchschnittliche personelle oder sachliche Aufwendungen, so kann die Gebühr bis zu 30.000 Euro betragen. | |
§ 5 Auslagen | § 4 Auslagen |
Auslagen sind nach Maßgabe des § 10 des Verwaltungskostengesetzes zu erstatten. Die in § 10 Abs. 1 Nr. 1 des Verwaltungskostengesetzes bezeichneten Auslagen werden jedoch nicht gesondert erhoben. | |
§ 6 Inkrafttreten | § 5 Inkrafttreten |
Diese Verordnung tritt am Tage nach der Verkündung in Kraft. Gleichzeitig tritt die Zulassungskostenverordnung vom 23. Februar 1973 (BGBl. I S. 111), zuletzt geändert durch die Verordnung vom 29. November 1988 (BGBl. I S. 2164), außer Kraft. | |
Anlage (neu) | Anlage (zu § 2) |
Für die Amtshandlungen nach § 1 dieser Verordnung werden die nachstehend aufgeführten Stundensätze berechnet: Themenbereich | Stundensatz Euro | Fachbereich Themenbereich 1 Akustik, Ultraschall, Beschleunigung | 75 | Kinematik Schall Angewandte Akustik Themenbereich 2 Durchfluss | 80 | Gase Flüssigkeiten Wärme Themenbereich 3 Elektrizität und Magnetismus | 70 | Gleichstrom und Niederfrequenz Hochfrequenz und Felder Elektrische Energiemesstechnik Quantenelektronik Halbleiterphysik und Magnetismus Elektrische Quantenmetrologie Themenbereich 4 Ionisierende Strahlung | 78 | Radioaktivität Strahlentherapie und Röntgendiag- nostik Strahlenschutzdosimetrie Ionenbeschleuniger und Referenz- strahlungsfelder Neutronenstrahlung Grundlagen der Dosimetrie Themenbereich 5 Länge, dimensionelle Metrologie | 76 | Bild- und Wellenoptik Quantenoptik und Längeneinheit Oberflächenmesstechnik Dimensionelle Nanometrologie Koordinatenmesstechnik Interferometrie an Maßverkörpe- rungen Themenbereich 6 Masse und abgeleitete Größen | 75 | Masse Festkörpermechanik Themenbereich 7 Metrologie in der Chemie | 73 | Metrologie in der Chemie Gasanalytik und Zustandsverhalten Stoffeigenschaften und Druck Themenbereich 10 Thermometrie | 78 | Detektorradiometrie und Strah- lungsthermometrie Temperatur Kryo- und Vakuumphysik Sonstige Leistungen | 76 | Gesetzliches Messwesen und Technologietransfer 69 | Justitiariat | |
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